XRD基于晶体材料对X射线的衍射特性进行分析,不同晶型由于晶格结构不同,在XRD衍射图谱上会表现出特定的衍射峰。定量分析通常采用以下方法:
●峰面积比法:选取不同晶型的特征衍射峰,并根据峰面积的比例计算含量。
●外标法:使用已知含量的标准样品构建校准曲线,对未知样品进行定量。
●Rietveld精修法:基于全谱拟合,通过晶体结构参数优化实现精确定量。
※优势
●高特异性:能够区分不同晶型,即使是微小的晶型差异也能检测到。
●高准确性:对已知晶型的定量分析结果通常非常可靠。
※局限性
●对无定形或低结晶度物质的定量分析较困难。
●样品制备要求较高,颗粒度和取向效应可能影响测试结果。
●对低含量晶型的检测灵敏度可能不足(通常>1-5%)。